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激光粒度測試技術的理論依據

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激光粒度測試技術的理論依據

發布日期:2016-04-08 00:00 來源:http://www.etshua.com 點擊:

圖像顆粒分析儀顆粒在工業生產中有著非常廣泛的應用,也和人們的日常生活密切相關。顆粒粒徑是顆粒的最重要參數,顆粒粒徑的大小在許多情況下直接影響到相關產品的性能和質量。近年來,隨著各種新型顆粒材料的出現,也給激光粒度儀的粒度測量的準確性和分辨率等指標提出了更高的要求。

    對粉體粒度分布的測定可用顯微鏡法、圖像解析法、電阻法、沉降法、激光衍射散射法、光子相關法等。其中激光法是應用最廣泛的一種方法,它集成了激光技術、光學技術、電子技術、精密機械和計算機技術,具有測量速度快、動態範圍大、操作簡便、重複性好等優點。激光粒度測試的理論依據有兩個,一是Mie散射理論,這一理論是描述顆粒對激光散射規律的嚴格理論,它考慮到了顆粒對激光的衍射、散射、反射、折射和吸收等現象,適合大大小小的顆粒,得到了結果準確性較高,是當前激光粒度儀廠家普遍采用的理論。二是Fraunhofer衍射理論,它是Mie散射理論的簡化版,它的唯一優點是計算簡單,缺點是僅適合大於5微米以上的顆粒(前向小角度散射),並且不考慮顆粒對激光的折射、反射、吸收特性,所得到的結果特別是細顆粒的結果誤差較大,是早期激光粒度儀使用的理論。圖像顆粒分析儀



圖像顆粒分析儀

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